DETERMINATION OF SURFACE ROUGHNESS FROM X-RAY DIFFRACTION MEASUREMENTS ON THIN FILMS = DETERMINATION DE LA RUGOSITE DE SURFACE A PARTIR DE MESURES DE DIFFRACTION DE RAYON X SUR DES COUCHES MINCESFISCHER W; WISSMANN P.1982; APPL. SURF. SCI.; ISSN 0378-5963; NLD; DA. 1982; VOL. 11-12; PP. 109-117; BIBL. 19 REF.Conference Paper

ELLIPSOMETRISCHE UNTERSUCHUNG DER ADSORPTION VON CO AN AUF GEDAMPFTEN NICKELFILMEN = ETUDE ELLIPSOMETRIQUE DE L'ADSORPTION DE CO SUR DES FILMS DE NI DEPOSES PAR EVAPORATIONMERKT U; WISSMANN P.1979; Z. PHYS. CHEM. (NEUE FOLGE); ISSN 0044-3336; DEU; DA. 1979; VOL. 115; NO 1; PP. 55-67; ABS. ENG; BIBL. 34 REF.Article

DER ELEKTRISCHE WIDERSTAND DUENNER, BEI UNTERSCHIEDLICHEM RESTGASDRUCK AUFGEDAMPFTER KUPFERFILME. = LA RESISTIVITE ELECTRIQUE DE COUCHES MINCES DE CUIVRE DEPOSEES PAR EVAPORATION SOUS DES PRESSIONS DE GAZ RESIDUELS DIFFERENTSRUDOLF P; WISSMANN P.1976; VAKUUM-TECH.; DTSCH.; DA. 1976; VOL. 25; NO 8; PP. 242-247; ABS. ANGL. FR.; BIBL. 21 REF.Article

LEED DETECTION OF TWIN FORMATION IN EPITAXIALLY GROWN METAL FILMS = DETECTION PAR DIFFRACTION LEED DE LA FORMATION DE MACLESGEIGER H; WISSMANN P.1980; APPL. SURF. SCI.; NLD; DA. 1980; VOL. 5; NO 2; PP. 153-160; BIBL. 36 REF.Article

OBSERVATION OF NEGATION P VALUES IN ADSORPTION EXPERIMENTS ON THIN METAL FILMS.DAYAL D; WISSMANN P.1977; THIN SOLID FILMS; NETHERL.; DA. 1977; VOL. 44; NO 2; PP. 185-191; BIBL. 26 REF.Article

DIE WIDERSTANDSERHOEHUNG BEI DER KOHLENMONOXID-ADSORPTION AN UNTERSCHIEDLICH GETEMPERTEN NICKELFILMEN = AUGMENTATION DE LA RESISTANCE DUE A L'ADSORPTION DE CO SUR DES COUCHES MINCES DE NIBAUER T; WISSMANN P.1975; Z. PHYS. CHEM., NEUE FOLGE, WIESBADEN; DTSCH.; DA. 1975; VOL. 97; NO 5-6; PP. 326-328; ABS. ANGL.; BIBL. 8 REF.Article

The electrical resistivity of thin Pd films grown on Si(111)HLOCH, H; WISSMANN, P.Physica status solidi. A. Applied research. 1994, Vol 145, Num 2, pp 521-526, issn 0031-8965Article

The d^-3 law describing the thickness dependence of the electrical resistivity of rough metal films = La loi en d^-3 décrivant la variation avec l'épaisseur de la résistivité électrique de couches minces métalliques rugueusesFINZEL, H.-U; WISSMANN, P.Annalen der Physik (Leipzig). 1986, Vol 43, Num 1-2, pp 5-10, issn 0003-3804Article

The temperature coefficient of the resistance of ultra-thin metal films from computer simulations = Coefficient de température de la résistance de couches métalliques ultra-minces à partir de simulations sur ordinateurFINZEL, H.-U; WISSMANN, P.Zeitschrift für Naturforschung. Teil A : Physik, physikalische Chemie, Kosmophysik. 1985, Vol 40, Num 10, pp 1066-1067, issn 0340-4811Article

Dielectric constants of adsorbed CO on Cu and Ag = Les constantes diélectriques de CO adsorbé sur du cuivre et de l'argentWATANABE, M; WISSMANN, P.Surface science. 1984, Vol 138, Num 1, pp 95-112, issn 0039-6028Article

Ellipsometric studies of oxygen adsorbed on silver films = Etudes ellipsométriques de l'oxygène adsorbé sur des couches d'argentWATANABE, M; WISSMANN, P.Journal de physique. Colloques. 1983, Vol 44, Num 10, pp C10.459-C10.462, issn 0449-1947Article

STRUCTURE INVESTIGATIONS ON SINGLE-CRYSTAL GOLD FILMS.FISCHER W; GEIGER H; RUDOLF P et al.1977; APPL. PHYS.; GERM.; DA. 1977; VOL. 13; NO 3; PP. 245-253; BIBL. 35 REF.Article

The effect of surface roughness on the resistivity increase of thin metal films during gas adsorption = Der Effekt der Oberflaechenrauhigkeit auf die Zunahme der Widerstandsfaehigkeit von duennen Metallfilmen waehrend GasadsorptionFINZEL, H.U; SCHMIEDL, E; WISSMANN, P et al.Applied physics. A, Solids and surfaces. 1987, Vol 42, Num 1, pp 87-90, issn 0721-7250Article

Photoelectric and ellipsometric studies of ethylene adsorption on pure and oxygen precovered silver films = Etudes photoélectriques et ellipsométriques de l'adsorption d'éthylène sur des films d'argent pur et prérecouvert d'oxygèneSCHMIEDL, E; WISSMANN, P; WITTMANN, E et al.Surface science. 1983, Vol 135, Num 1-3, pp 341-352, issn 0039-6028Article

The effect of CO adsorption on the resistivity of thin Pd filmsRAUH, M; HEPING, B; WISSMANN, P et al.Applied physics. A, Materials science & processing (Print). 1995, Vol 61, Num 6, pp 587-590, issn 0947-8396Article

Structural and optical properties of thin silver films deposited on Si(111)MASTEN, A; BRÜGGEMANN, M; WISSMANN, P et al.Fresenius' journal of analytical chemistry. 1999, Vol 365, Num 1-3, pp 227-230, issn 0937-0633Conference Paper

Spectroscopic ellipsometry on gold clusters embedded in a Si(111) surfaceMÜMMLER, K; WISSMANN, P.Thin solid films. 1998, Vol 313-14, pp 522-526, issn 0040-6090Conference Paper

Ellipsometric response to hydrogen adsorption on thin iron filmsSCHMIDT, R; WEDLER, G; WISSMANN, P et al.Vacuum. 1990, Vol 41, Num 7-9, pp 1590-1592, issn 0042-207X, 3 p.Conference Paper

Ellipsometric studies on thin silver films epitaxially grown on Si(111)MASTEN, A; WISSMANN, P.Thin solid films. 1999, Vol 343-4, pp 187-190, issn 0040-6090Conference Paper

Optical studies on thin copper films on Si(111)MASTEN, A; WISSMANN, P.Applied surface science. 2001, Vol 179, Num 1-4, pp 68-72, issn 0169-4332Conference Paper

The oxidation kinetics of thin copper films studied by ellipsometryRAUH, M; WISSMANN, P.Thin solid films. 1993, Vol 228, Num 1-2, pp 121-124, issn 0040-6090Conference Paper

Ellipsometrical studies on the Au/Si(111) systemMÜMMLER, K; WISSMANN, P.Thin solid films. 1998, Vol 317, Num 1-2, pp 193-197, issn 0040-6090Conference Paper